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产品型号:
GSZ-RTS-3
产品名称:
四探针测试仪 测试仪
产品报价:
产品特点:
仪器采用了电子行、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。
  GSZ-RTS-3四探针测试仪 测试仪的详细资料:

四探针测试仪   测试仪              型号:GSZ-RTS-3

 

手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的,用于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
仪器采用了电子行、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等点。如有需要可加配测试台使用。

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。

技 术 指 标
 
 测量范围
 电阻率:0.01~1999.9Ω.cm;  
 方块电阻:0.1~19999Ω/□;
 
恒源
 电量程分为100μA、1mA两档,两档电连续可调
数字电压表
 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV;  
 输入阻抗:>1000MΩ; 精度:±0.1%;  
 显示:以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;性、量程自动显示;
四探针探头基本指标
 间距:1±0.01mm;  针间缘电阻:≥1000MΩ; 机械游移率:≤0.3%;
 探针:碳化钨或速钢Ф0.5mm; 探针压力:5~16 牛顿(总力);
四探针探头应用参数
 (见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差
 
 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整机测量zui大相对误差
(用硅标样片:0.01-180Ω.cm测试)≤±5%
整机测量标准不确定度
 ≤5%
外型尺寸
 185mm(长)*90mm(宽)*30mm()
重量
 350g
电源
 锂电池,次充电可连续使用100小时;
标准使用环境
 温度:23±2℃; 相对湿度:≤65%; 无频干扰; 无强光直射;

 

 

 

 

 

2.

产品名称:数字熔点仪 熔点仪
产品型号:HA-WRS-2

数字熔点仪 熔点仪 型号:HA-WRS-2

点:测定晶体物质的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。光电检测,数字键盘输入,大屏幕背光液晶显示,屏幕直接显示熔化曲线。有RS232接口。
 
 主要参数:
熔点测定范围:室温~300℃
 温度显示zui小示值:0.1℃
 线性升温速率: 0.2℃/min, 0.5℃/min, 1℃/min, 1.5℃/m2℃/min, 3℃/min, 4℃/min, 5℃/min八档
 测量准确率:< 200℃: ±0.5℃, ≥200℃: ±0.8℃
 仪器重量:11kg
 仪器尺寸:398×280×170(mm)

 

产品相关关键字: 四探针测试仪 测试仪
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